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納米粒度電位儀是化學、材料科學及生物醫(yī)藥領域的關鍵分析儀器，其核心功能在于精確測量納米顆粒的粒徑分布與Zeta電位，為納米材料研發(fā)、藥物制劑穩(wěn)定性評估及生物大分子分析提供核心數據支持。該儀器通過動態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）及靜態(tài)光散射（SLS）技術，實現粒徑范圍0.3nm至10μm的跨尺度測量，并同步分析顆粒表面電荷特性，成為納米科技研究中不可少的“雙參數檢測工具”。納米粒度電位儀在使用前的準備工作指南：一、環(huán)境與儀器狀態(tài)準備穩(wěn)定實驗環(huán)境：溫度：提前開啟空調，確...

激光噴霧粒度儀是一種基于激光散射原理的高精度測量設備，專門用于分析噴霧、氣霧劑、粉霧劑等微小顆粒的尺寸分布及動態(tài)特性。其核心原理是當激光束照射到噴霧顆粒時，顆粒會對入射光產生散射作用，散射光的強度及角度分布與顆粒粒徑直接相關——大顆粒散射光角度小、信號強，小顆粒則相反。通過測量散射光的角度分布與強度，并結合Mie理論或Fraunhofer衍射模型（適用于5μm顆粒），儀器可反算出顆粒的粒徑分布。該儀器具備顯著的技術優(yōu)勢：測量范圍廣，可覆蓋0.1μm至30000μm的粒徑，滿足...

X射線熒光光譜儀是一種基于X射線激發(fā)原理的非破壞性分析儀器，通過測量物質受激發(fā)后產生的特征X射線熒光，實現元素定性與定量分析。其核心原理為：高能X射線或伽馬射線轟擊樣品時，樣品中原子內層電子被擊出，形成空穴，外層電子躍遷填補空穴時釋放特征X射線。不同元素的特征X射線具有特定能量或波長，探測器捕獲這些信號后，儀器軟件將其轉化為元素種類及含量信息。X射線熒光光譜儀其主要技術特點如下：1、分析速度快，效率高XRF分析過程非常迅速，通常在10秒到幾分鐘內即可完成對樣品中多種元素的同時...

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納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術的高精度物理性能測試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運動和光散射特性，實現粒徑、濃度及Zeta電位等多參數同步測量，廣泛應用于生物醫(yī)藥、材料科學、環(huán)境監(jiān)測等領域。技術原理：NTA技術結合激光散射與視頻顯微技術，利用納米顆粒在液體中的布朗運動特性進行表征。激光束照射樣品池后，顆粒散射的光被顯微鏡捕捉，高速攝像頭（如CMOS傳感器）以每秒30幀的頻率記錄顆粒運動軌跡。通過分析擴散系數并結合斯托克斯-愛因斯坦方程，可計算出顆粒的...